Les circuits intégrés émettent de la lumière durant leur phase de fonctionnement. La microscopie à émission de lumière (EMMI, EMission MIcroscopy) consiste à observer ce phénomène physique pour localiser précisément des zones spécifiques d’une puce au cœur du silicium. Ceci peut permettre la localisation de zones défaillantes par l’analyse des différences d’émissions.
Nous pouvons également réaliser une analyse temporelle de l’émission de lumière permettant de localiser les problèmes de propagation de signaux (TRE, Time Resolved Emission, TRI, Time Resolved Imaging).

Intraspec Technologies - Nos moyens - Microscopie à émission de lumière - EMMI - AOP

AVANTAGES

Localisation précise du défaut à l’échelle de la puce

·

Préservation de la fonctionnalité du composant

·

Information sur l’activité temporelle

·

Flexibilité et maitrise des paramètres électriques durant l’acquisition

·

Haute résolution spatiale (1µm)

·

Champ de vue : 10x10mm

·

Espace de travail important (Grandes cartes de test utilisables)

Application

En « mode statique »

Intraspec Technologies - Nos moyens - Microscopie à émission de lumière - Services - EMMI Micro

Localisation de court-circuit, surconsommation,
Analyse de l’activité interne d’une puce et «descrambling»
de composant mémoire

Application

En « mode dynamique »

Intraspec Technologies - Nos moyens - Microscopie à émission de lumière - Services - Tri micro

Localisation d’une fuite de courant transitoire,
Détection de la propagation de signaux,
Analyse du délais entre deux signaux,
Détection d’anomalie fréquentielle

FPGA (130nm)
Investigations temporelle de émission de lumière : Information
sur l’activité du nœud

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