Les rayonnements ionisants provoquent des perturbations au sein des composants appelées événements singuliers (Single Event Effect). Il est possible de reproduire la composante électrique de ces phénomènes à l’aide d’un laser impulsionnel injectant localement et soudainement des charges au sein des structures actives du composant. La corrélation avec la position du laser permet la cartographie des zones sensible du silicium.

Intraspec Technologies - Nos moyens - Sensibilité aux SEE - pres mos schematic 2pl stim

AVANTAGES

Localisation précise des sensibilités à l’échelle de la puce, résolution spatiale de 1µm

·

Flexibilité et maitrise des paramètres électriques durant l’acquisition

·

Champ de vue maximal : 3mmx3mm

Stimulation

asynchrone

Intraspec Technologies - Nos moyens - Sensibilité aux SEE - Stimulation asynchrone

Cartographie des zones sensibles aux Latch-up
sur un ADC

Stimulation

synchrone

intraspec-nos-moyens-sensibilite-aux-see-stimulation-synchrone

Visualisation des sensibilités pour 2 états de
synchronisation différents

Découvrez nos autres moyens

Saississez votre recherche et appuyez sur "Entrée"