EMMI – Microscopie à
émission de lumière
Les circuits intégrés émettent de la lumière durant leur phase de fonctionnement. La microscopie à émission de lumière (EMMI, EMission MIcroscopy) consiste à observer ce phénomène physique pour localiser précisément des zones spécifiques d’une puce au cœur du silicium. Ceci peut permettre la localisation de zones défaillantes par l’analyse des différences d’émissions.
Nous pouvons également réaliser une analyse temporelle de l’émission de lumière permettant de localiser les problèmes de propagation de signaux (TRE, Time Resolved Emission, TRI, Time Resolved Imaging)
AVANTAGES DE L’EMMI
Localisation précise du défaut à l’échelle de la puce
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Préservation de la fonctionnalité du composant
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Information sur l’activité temporelle
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Flexibilité et maîtrise des paramètres électriques durant l’acquisition
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Haute résolution spatiale (1µm)
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Champ de vue : 10x10mm
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Espace de travail important (Grandes cartes de test utilisables)
EMMI
en « mode statique »
Localisation de court-circuit, surconsommation,
Analyse de l’activité interne d’une puce et «descrambling» de composant mémoire
EMMI
en « mode dynamique »
Localisation d’une fuite de courant transitoire,
Détection de la propagation de signaux,
Analyse du délais entre deux signaux,
Détection d’anomalie fréquentielle
Découvrez nos autres moyens
