Les circuits intégrés émettent de la lumière durant leur phase de fonctionnement. La microscopie à émission de lumière (EMMI, EMission MIcroscopy) consiste à observer ce phénomène physique pour localiser précisément des zones spécifiques d’une puce au cœur du silicium. Ceci peut permettre la localisation de zones défaillantes par l’analyse des différences d’émissions.
Nous pouvons également réaliser une analyse temporelle de l’émission de lumière permettant de localiser les problèmes de propagation de signaux (TRE, Time Resolved Emission, TRI, Time Resolved Imaging)