La radiographie et tomographie à rayons X est une technique d’imagerie sans contact permettant une observation de la structure interne de tout composant ou système électronique.
Un volume est reconstruit informatiquement à partir d’une séquence d’image RX 2D acquise suivant chaque angle de vue de l’échantillon. Une fois la reconstruction effectuée, de nombreuses possibilités de post-traitement sont disponibles pour une analyses de l’échantillon virtuel. Par exemple, une vue en coupe virtuel peut être réalisé suivant n’importe quelle direction. Différentes images en niveau de gris sont également disponibles permettant de relativement différencier les matériaux présent dans l’échantillon.
Observation interne
non destructive
Court-circuit sur l’assemblage d’un composant
électronique
Quantification
de taux de « void »
« Voids » dans la brasure
d’un microprocesseur.
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